5nm手機芯片功耗過高?

導讀 功耗是芯片制造工藝演進時備受關注的指標之一。比起7nm工藝節點 5nm工藝可以使產品性能提高15% 晶體管密度最多提高1 8倍。三星獵戶座108

功耗是芯片制造工藝演進時備受關注的指標之一。比起7nm工藝節點 5nm工藝可以使產品性能提高15% 晶體管密度最多提高1.8倍。三星獵戶座1080、華為麒麟9000、驍龍888和蘋果的A14芯片都采取了5nm工藝制程。然而 5nm手機芯片功耗過高的問題卻于近期被媒體頻頻報道。這也不禁令人產生質疑:先進制程是否只是噱頭?芯片廠商是否還有必要花費高價和大量時間 在芯片先進制程方面持續進行研發和投入?

先進制程只是噱頭?

數據顯示 28nm工藝的設計成本為0.629億美元。隨著制程工藝的推進 芯片的設計成本迅速上升。7nm工藝節點的成本暴增至3.49億美元 5nm工藝所需成本更是高達4.76億美元。另有數據顯示 臺積電每片5nm晶圓的代工費用約為17000美元 這一數字幾乎是7nm芯片所需費用的兩倍。因為成本的壓力 許多晶圓代工廠無法參與到先進制程工藝的賽道。目前 具備先進制程芯片生產能力的代工廠 僅有臺積電、三星和英特爾三家。然而 高昂的付出卻仍然無法解決功耗問題 先進制程工藝是否只是噱頭?

“手機芯片的制程數值越小 意味著芯片晶體管尺寸進一步微縮 芯片中元器件的排列也更加密集。這使得單位面積內 芯片可集成的晶體管數目增多。此次手機芯片制程由7nm提升至5nm 使得芯片上集成的晶體管數目得到顯著提升。以華為麒麟9000芯片為例 和上一代采用7nm工藝制程的麒麟990(5G版)相比 華為麒麟9000的晶體管數目足足多了50億 總數目提高至153億。晶體管數目越多 芯片相應的運算和存儲能力也就越強 這使得芯片在程序運行加載速度、數據處理性能等方面都獲得了較為顯著的提升。除此之外 5nm手機SoC芯片更強調5G能力 5G基帶芯片的集成使其在通信性能方面獲得了明顯提升。”復旦大學微電子學院教授周鵬向記者說道。

隨著摩爾定律的發展 半導體產業本身就是一部關于創新的著作 里面凝聚了許多迭代創新的技術 當然也包括了試錯的過程。周鵬認為 5nm技術節點是目前先進半導體技術的集大成者。現階段 5nm技術才剛推出第一代工藝 它所面對的問題主要源于工藝的不穩定性。在每一代工藝節點的研發中 新產品都會面臨類似的問題 這種問題的解決還需要更多研發時間的投入和技術上的改進迭代。

Gartner研究副總裁盛凌海也指出 任何新的工藝都需要有一個磨合期。隨著技術的更新迭代 出現的問題將得到解決。手機芯片剛剛開啟5nm時代 推出5nm手機芯片的廠商成為第一批“吃螃蟹的人”。然而 沒有吃到“螃蟹黃” 并不意味著“螃蟹肉”就不夠鮮美。隨著時間的推移和技術的演進 5nm芯片會體現更多優勢 讓諸多手機廠商吃到“螃蟹黃”。

為何會出現功耗問題?

為何采用先進工藝制造的芯片產品容易出現功耗問題?周鵬介紹 目前的芯片產品越來越追求高性能 功耗的增加主要來源于“漏電”這一不可控現象。他表示 構成芯片的基本單元——晶體管可被視為一個控制電流的電子開關。它可以把功耗分成兩部分 即靜態功耗和動態功耗。動態功耗是指在開關過程中產生的功耗 而靜態功耗是指開關在關閉時 泄漏電流產生的功耗。如今5nm手機芯片出現功耗過高的問題 主要是泄漏電流導致的靜態功耗增加。

為提高芯片的性能 就需要把電子開關對電流通斷的控制能力提高 以加快開關的速度。這意味著 開關要在更小尺寸的情況下通過更大的電流。開關的尺寸越小 對制備工藝的要求就越高 這使得開關在關閉狀態下 會有更多泄露電流。這部分產生的功耗是不可控的 是否產生功耗將直接由工藝的穩定性決定。要想使產品的性能提升 就需要更小的芯片制程 而芯片制程越小 就會為制造工藝帶來更大的挑戰。由于難以保障工藝的穩定性 漏電現象會愈發明顯 功耗也會變大。

也有聲音稱 此次5nm芯片出現功耗問題 意味著FinFET工藝結構將不再適用于5nm芯片制程。用于3nm工藝節點的GAA工藝結構 有望提前被用在5nm芯片中。

自英特爾于2011年首次推出基于FinFET結構的22nm工藝以來 FinFET工藝結構已經在先進集成電路芯片中應用了十年。周鵬介紹 FinFET結構的提出是為了克服平面MOSFET結構下 由于源極和漏極越來越近、氧化物越來越薄所導致的漏電問題。它的優勢主要體現在兩個方面。一方面是可以使晶體管在更小的平面結構尺寸下 緩解漏電的問題;另一方面則是將晶體管的結構形態從二維層次突破到三維空間 提高了芯片的空間利用率。提出該結構的最終目的 是為了在單位面積內塞入更多的晶體管。

然而 隨著技術節點的進一步推進 FinFET結構也面臨越來越大的困難與挑戰。該結構的制備工藝十分復雜 會給工藝的穩定性方面帶來一定困擾 使漏電問題無法得到有效保障。相比于三面圍柵的FinFET結構 GAA技術采用的四面環柵結構 可以更好地抑制漏電流的形成和驅動電流的增大 更有利于實現性能和功耗之間的平衡。

但是 周鵬也指出:“工藝的不穩定問題對GAA結構來說也同樣存在 GAA和FinFET結構要解決的都是漏電問題。實現GAA工藝的難度并不比FinFET小 它的發展也需要一個技術改進的過程。GAA結構是在先進制程領域被普遍看好的工藝結構。但就目前5nm技術節點來說 不采用FinFET而采用GAA 仍是一個值得商榷的問題 畢竟GAA工藝也需要遵循一定的發展規律。”

摩爾定律將持續演進

芯片的制程越來越小 需要攻克的技術難點就越來越多 成本會變得越來越高昂 但這并不意味著摩爾定律將失效。芯片的制造工藝仍將不斷向更高制程演進。

對此 周鵬認為 芯片制程將跟隨摩爾定律的腳步不斷發展。盡管在發展的過程中 會面臨更多技術、成本帶來的問題 但是人們對芯片性能的追求已經超過了經濟成本的范疇。“在芯片發展的早期 人們面對的是一個經濟問題。這是因為集成電路芯片在發展初期 是一種需要盡快普及和應用的商業化產品 成本是其大規模應用和推廣時要面對的主要問題。每隔一段時間 單位面積的晶體管數量倍增 帶來的直接效應就是成本顯著降低。這推動了芯片的廣泛使用。尺寸微縮帶來的性能提升和功耗降低 也是為降低生產成本服務的。隨著芯片滲透至人類生活的方方面面 它已經不是可有可無的商品 而是一個必需品。人們對芯片的依賴程度越來越高 所以對芯片性能的要求已慢慢超過了對經濟成本的要求。人們愿意花更多的錢去體驗更好的性能。隨著技術天花板的到來 人們對性能的追求超過了經濟成本的范疇。”周鵬說道。

同時 周鵬認為 隨著芯片制程發展至5nm節點以下 晶體管溝道長度將進一步縮短 晶體管中電荷的量子遂穿效應將更容易實現。這些不受控制的隧穿電荷 將導致晶體管產生較大的漏電流 進而使得芯片的功耗問題變得更加嚴重。

當然 這些也不是無法攻克的難題。在未來的技術發展中 為了能夠更好地控制芯片功耗 具有更強溝道電流控制能力的GAA結構 將受到更多重視。事實上 早在三年前 三星便表示將在3nm制程中引入GAA技術 并計劃于2022年正式量產。臺積電也于去年宣稱 其在2nm制程研發中有重大突破 將選擇切入GAA技術。這些都能說明GAA技術在5nm節點之后的更小的制程中 會受到業界的普遍認可和青睞。

“但值得注意的是 在半導體領域當中 任何一種技術的迭代更新都需要經歷多年的試錯和改進。GAA結構雖然在5nm以下制程中具有較為明顯的優勢 但它是否能實現預期的高性能和低功耗 還要看其制程中面臨的技術難題能否被一一攻克。”周鵬說道。

芯片還將向更先進制程發展。只要將足夠的時間留給新技術去更新迭代 很多問題都會迎刃而解。 責任編輯:tzh

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